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從「兩兆雙星」論科技產業整合策略
描述:來源期刊:電子月刊、卷期:9:5=94 民92.05、頁次:頁186-196
主題與關鍵字:兩兆雙星計劃 科技產業整合
資料識別:A03010289
196621/1161946
DRAM的可靠度技術(1)--元件可靠度分析的基礎
描述:來源期刊:電子月刊、卷期:9:5=94 民92.05、頁次:頁197-203
主題與關鍵字:半導體元件 可靠度技術 半導體製程 DRAM
資料識別:A03010290
196622/1161946
新世紀超高速電路設計的課題連載(4)--超高速資料傳輸的...
描述:來源期刊:電子月刊、卷期:9:5=94 民92.05、頁次:頁215-219
主題與關鍵字:超高速電路設計 資料傳輸
資料識別:A03010291
196623/1161946
淺談低溫物理實驗技術
描述:來源期刊:電子月刊、卷期:9:6=95 民92.06、頁次:頁110-115
主題與關鍵字:低溫物理實驗
資料識別:A03010292
196624/1161946
穿透式電子顯微鏡區成分分析技術簡介
描述:來源期刊:電子月刊、卷期:9:6=95 民92.06、頁次:頁116-126
主題與關鍵字:電子能損譜儀 穿透式電子顯微鏡 材料分析 EELS
資料識別:A03010293
196625/1161946
低介電常數薄膜熱傳導系數測量技術
描述:來源期刊:電子月刊、卷期:9:6=95 民92.06、頁次:頁127-140
主題與關鍵字:低介電常數薄膜 熱傳導係數 IC製程 低介電常數材料
資料識別:A03010294
196626/1161946
半導體製程中微量元素分析技術之應用
描述:來源期刊:電子月刊、卷期:9:6=95 民92.06、頁次:頁141-149
主題與關鍵字:感應耦合電漿質譜儀 石墨爐原子吸收光譜儀 全反射x射線螢...
資料識別:A03010295
196627/1161946
掃描電容顯微鏡之發展與現況--介紹掃描電容顯微鏡的技術...
描述:來源期刊:電子月刊、卷期:9:6=95 民92.06、頁次:頁150-158
主題與關鍵字:掃描電容顯微鏡 SCM
資料識別:A03010296
196628/1161946
從「兩兆雙星」論科技產業整合策略
描述:來源期刊:電子月刊、卷期:9:6=95 民92.06、頁次:頁160-171
主題與關鍵字:兩兆雙星計劃 科技產業整合
資料識別:A03010297
196629/1161946
SARS發展對臺灣光電產業之衝擊與因應
描述:來源期刊:電子月刊、卷期:9:6=95 民92.06、頁次:頁172-173
主題與關鍵字:SRAS 光電產業
資料識別:A03010298
196630/1161946
新世紀超高速電路設計的課題連載(5)--資料傳輸所必要的...
描述:來源期刊:電子月刊、卷期:9:6=95 民92.06、頁次:頁197-201
主題與關鍵字:超高速電路設計 資料傳輸
資料識別:A03010299
196631/1161946
半導體洗淨及清潔技術的新發展
描述:來源期刊:電子月刊、卷期:9:6=95 民92.06、頁次:頁202-207
主題與關鍵字:半導體製程
資料識別:A03010300
196632/1161946
IC設計公司以分工及專注優勢締造佳績
描述:來源期刊:新電子科技、卷期:205 民92.04、頁次:頁36+38+40
主題與關鍵字:IC設計業 IC設計公司
資料識別:A03010301
196633/1161946
借鏡傑出IC設計公司的成功經驗
描述:來源期刊:新電子科技、卷期:205 民92.04、頁次:頁42+44+46+4...
主題與關鍵字:IC設計公司 IC設計業
資料識別:A03010302
196634/1161946
看臺灣IC設計公司如何掙得各自頭上一片天
描述:來源期刊:新電子科技、卷期:205 民92.04、頁次:頁60+62+65-6...
主題與關鍵字:IC設計業 IC設計公司
資料識別:A03010303
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