"\\?"(其後字詞)無法查詢， 因為 聯合目錄 的查詢上限是256個字。
符合的藏品
共找到 149 筆符合的資料
奈米級顯微鏡設備長行程定位系統...
掃瞄探針顯微鏡 原子力顯微鏡 雙平臺定位系統 Scanning probe microscope SPM Atomic force microscope AFM Dual-stage.....more
- 32/149
奈米轉印微影技術之成品檢測
奈米轉印微影技術 掃描式電子顯微鏡 原子力顯微鏡 成品檢測 Nanoimprint lithography NIL Scanning electron microscope SEM Atomic.....more
- 33/149
掃描穿隧顯微鏡於矽單晶上奈米尺...
掃描探針顯微鏡 掃描穿隧顯微鏡 電氣化 矽 Scanning probe microscope Scanning tunneling microscope Electrical oxidation.....more
- 34/149
Fabrication of Nanometer Scale...
Structures on Silicon Terraces by Atomic Force Microscope 臺灣期刊論文索引系統 來源期刊:Chinese Journal of Physics 卷期.....more
- 35/149
Identification of Textile Fibe...
Forensic sciences Fiber analysis Fiber identification Raman spectroscopy Raman microscope 國家圖書館.....more
- 36/149
A Study on the Pollen Grains o...
with the Scanning Electron Microscope 臺灣期刊論文索引系統 來源期刊:Fu Jen Studies. Natural Sciences 卷期:9 民64.12 頁次:頁89.....more
- 37/149
High Frequency Ultrasonic Imag...
High frequency scanner Small animal imaging Ultrasonic backscatter microscope 國家圖書館 20090300 期刊論文.....more
- 38/149
High-speed Serial-kinematic SP...
High-speed nanopositioning Piezoactuator Scanning probe microscope 國家圖書館 20090300 期刊論文 Leang， Kam K.....more
- 39/149
Creep and Hysteresis Compensat...
Microscope 臺灣期刊論文索引系統 來源期刊:Asian Journal of Control 卷期:11:2 2009.03[民98.03] 頁次:頁182-187 A10005026 .....more
- 40/149
A Comparison of Control Archit...
Atomic force microscope feedforward control 國家圖書館 20090300 期刊論文 Butterworth， J. A. Pao， L. Y.....more
- 41/149
Robust Two-Degree-of-Freedom C...
. Stemmer，A. Allgower，F. Robust Two-Degree-of-Freedom Control of an Atomic Force Microscope 臺灣期刊論文索引系統 來源期.....more
- 43/149
High Tc SQUID Probe Microscope...
國家圖書館 20040800 期刊論文 Itozaki，H. Kondo，T. Koetitz，R. High Tc SQUID Probe Microscope 臺灣期刊論文索引系統 來源期刊.....more
- 44/149
Atomic Imaging of Graphite Sur...
Tunneling Microscope 臺灣期刊論文索引系統 來源期刊:Chinese Journal of Physics 卷期:37:2 民88.04 頁次:頁181-183 A99024592 .....more
- 45/149