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資料識別:
A11005346
資料類型:
期刊論文
著作者:
賴明偉(Lai, M. W.) 羅聖全(Lo, S. C.) 張晉愷(Chang, C. K.) 林麗娟(Lin, L. J.)
主題與關鍵字:
低溫雙束型聚焦離子束 樣品冷凍 冷凍蝕刻 截面分析 斷層掃描 Cryo dual-beam focused ion beam Cryo DB-FIB Sample freezing Freeze etching Cross-sectional analysis Tomography
描述:
來源期刊:工業材料
卷期:289 2011.01[民100.01]
頁次:頁73-81
日期:
20110100
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
賴明偉(Lai, M. W.) 羅聖全(Lo, S. C.) 張晉愷(Chang, C. K.) 林麗娟(Lin, L. J.)(20110100)。[低溫DB-FIB分析技術介紹]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/5f/79/63.html(2024/09/16瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/5f/79/63.html
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