低溫DB-FIB分析技術介紹

推薦分享

Share

資源連結

連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)

後設資料

資料識別:
A11005346
資料類型:
期刊論文
著作者:
賴明偉(Lai, M. W.) 羅聖全(Lo, S. C.) 張晉愷(Chang, C. K.) 林麗娟(Lin, L. J.)
主題與關鍵字:
低溫雙束型聚焦離子束 樣品冷凍 冷凍蝕刻 截面分析 斷層掃描 Cryo dual-beam focused ion beam Cryo DB-FIB Sample freezing Freeze etching Cross-sectional analysis Tomography
描述:
來源期刊:工業材料
卷期:289 2011.01[民100.01]
頁次:頁73-81
日期:
20110100
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

引用這筆典藏 引用說明

引用資訊
直接連結

評分與驗證

請為這筆數位資源評分

star star star star star

推薦藏品

白話散文與雜文--《中國現代文學的兩...
微奈米級三維全域表徵動態顯微量測
基因、主體與後人文社會規範
人類幹細胞研究的法議題
Vitrectomy without...
試介李勤岸、胡民祥、莊柏林、路寒袖、...