積層陶瓷電容表面瑕疵之檢測與分類

推薦分享

Share

資源連結

連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)

後設資料

資料識別:
A05005828
資料類型:
期刊論文
著作者:
邱奕契 林憲忠
主題與關鍵字:
影像分割 特徵抽取 瑕疵分類 MLCC Image segmentation Feature extraction Flaw classification
描述:
來源期刊:中華理工學刊
卷期:3:2 民94.03
頁次:頁55-60
日期:
20050300
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

引用這筆典藏 引用說明

引用資訊
直接連結

評分與驗證

請為這筆數位資源評分

star star star star star

推薦藏品

中藥材中黃麴毒素污染之調查
撥號選接器監測與管理系統之發展
基因、主體與後人文社會規範
小綠葉蟬吸食茶菁對白毫烏龍茶香氣成份...
在全球化與地化的交錯之中:白先勇、李...
微奈米級三維全域表徵動態顯微量測