X-ray Reflectivity and Total-Reflection Fluorescence Analysis of Amorphous SiO₂/Ta₂O₅ Thin Films
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- 資料識別：
- A04045467
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- Chang，Wei-der Hung，Hsueh-hsing Dann，Tang-eh Huang，Tung-wuu Wu，Shiou-yun
- 描述：
- 來源期刊:Chinese Journal of Physics
- 卷期:42:5 民93.10
- 頁次:頁607-618
- 日期：
- 20041000
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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