奈米工具：掃描探針顯微設備
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- 資料識別：
- A04020201
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 陳燦林 陳譽元 戴鴻名
- 主題與關鍵字：
- 掃描力顯微鏡 掃描穿隧顯微鏡 掃描探針顯微鏡 Scanning tunneling microscope STM Scanning force microscope SFM Scanning probe microscope SPM
- 描述：
- 來源期刊:機械工業
- 卷期:255 民93.06
- 頁次:頁195-204
- 日期：
- 20040600
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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- 管理單位：知識服務組-期刊
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