A Powerful Electrical Probing Method to Detect the Kink Effect of MOSFET Devices
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- 資料識別：
- A04017543
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 王木俊(Wang， Mu-chun) 陳厚銘(Chen， Hou-ming) 蔡政村(Tsai， Cheng-tsun) 陳永珍(Chen， Yung-chen) 呂良德(Lu， Liang-te)
- 主題與關鍵字：
- 品質 氧化層 捲縮效應 自動量測 Integrity Gate oxide Kink effect Auto testing
- 描述：
- 來源期刊:大葉學報
- 卷期:13:1 民93.06
- 頁次:頁23-27
- 日期：
- 20040600
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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