A Powerful Electrical Probing Method to Detect the Kink Effect of MOSFET Devices

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資料識別:
A04017543
資料類型:
期刊論文
著作者:
王木俊(Wang, Mu-chun) 陳厚銘(Chen, Hou-ming) 蔡政村(Tsai, Cheng-tsun) 陳永珍(Chen, Yung-chen) 呂良德(Lu, Liang-te)
主題與關鍵字:
品質 氧化層 捲縮效應 自動量測 Integrity Gate oxide Kink effect Auto testing
描述:
來源期刊:大葉學報
卷期:13:1 民93.06
頁次:頁23-27
日期:
20040600
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

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管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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