低溫複晶矽元件與陣列之可靠度

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資料識別:
A03012354
資料類型:
期刊論文
著作者:
陳志強 張忠恕
主題與關鍵字:
低溫複晶矽薄膜電晶體 玻璃層次可靠度 靜電傷害 Low temperature poly silicon thin film transistor LTPS TFT Glass-Level reliability Electrostatic discharge damage ESD
描述:
來源期刊:工業材料
卷期:196 民92.04
頁次:頁153-163
日期:
20030400
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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