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磁性記憶體寫入干擾錯誤與測試
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後設資料
資料識別:
A08022455
資料類型:
期刊論文
著作者:
蘇錦榮 吳誠文 洪建中 高明哲
主題與關鍵字:
磁性記憶體 寫入干擾
描述:
來源期刊:電光先鋒
卷期:8 2008.01[民97.01]
頁次:頁15-24
日期:
20080100
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
蘇錦榮 吳誠文 洪建中 高明哲(20080100)。[磁性記憶體寫入干擾錯誤與測試]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3b/cc/8c.html(2024/09/16瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3b/cc/8c.html
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