以失效模式與效應分析為基的製程問題分析模式--以奈米探管背光模組為例
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- 資料識別：
- A10003707
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 邱創鈞(Chiou， Chuang-chun) 方勇盛(Fang， Yung-sheng) 蔡禎騰(Tsai， Jenteng)
- 主題與關鍵字：
- 失效模式與效應分析 故障樹 特性要因圖 模糊德菲法 奈米碳管背光模組 Failure mode and effect analysis FMEA Fault tree analysis FTA Cause and effect diagram Fuzzy delphi Carbon nano-tube back light unit CNT-BLU
- 描述：
- 來源期刊:科學與工程技術期刊
- 卷期:5:4 2009.12[民98.12]
- 頁次:頁1-19
- 日期：
- 20091200
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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