題名:三維電腦繪圖系統晶片之測試介面控制電路與可測試性設計技術
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後設資料
- 資料類型：
- 資料類型:學位論文
- 著作者：
- 創作者名稱:吳俊毅
- 主題與關鍵字：
- 中文關鍵詞:美術
- 中文關鍵詞:臺灣
- 中文關鍵詞:繪畫
- 中文關鍵詞:電腦繪圖
- 中文關鍵詞:可測試性
- 中文關鍵詞:電腦繪圖晶片
- 中文關鍵詞:測試電路
- 中文關鍵詞:系統晶片測試
- 中文關鍵詞:測試電路
- 外文關鍵詞:Taiwan
- 外文關鍵詞:3D Chip on Embedded System
- 外文關鍵詞:IEEE 1500 Testing Circuit
- 外文關鍵詞:SoC Testing
- 外文關鍵詞:Test Interface Controller
- 出版者：
- 出版地:高雄市
- 主要出版者:國立高雄大學電機工程學研究所
- 日期：
- 出版日期:2009-01
- 來源：
- 來源資料庫:臺灣戲劇與美術主題資料庫(http://drama.ncl.edu.tw/ncltwdaFront/)
- 語言：
- 語文:中文
- 管理權：
- 典藏單位:國家圖書館
授權聯絡窗口
- 圖文授權請逕洽出版者或作者。 資料庫相關問題請洽國家圖書館知識服務組 ref@ncl.edu.tw
