良率極大化的製程公差設計
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- 資料識別：
- A99035269
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 李永晃(Lee， Yeong-hoang) 張清亮(Chang， Ching-liang) 魏秋建(Wei， Chiu-chi)
- 主題與關鍵字：
- 製程能力 不良率 公差設計 Process capability Scrap rate Tolerance design
- 描述：
- 來源期刊:工業工程學刊
- 卷期:16:6 民88.11
- 頁次:頁689-695
- 日期：
- 19991100
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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