首頁
部落格
Facebook專頁
ENGLISH
珍藏特展
目錄導覽
技術體驗
成果網站資源
目錄導覽首頁
HOTKEY快速導覽
內容主題
典藏機構
進階搜尋
資源聯盟
首頁
目錄導覽
內容主題
新聞
國圖館藏期刊
首頁
目錄導覽
典藏機構與計畫
國家圖書館
國家圖書館期刊報紙典藏數位化計畫
Fault Diagnosis in ATE's Analog Circuit Modules Using Parameter Estimation
推薦分享
資源連結
連結到原始資料
(您即將開啟新視窗離開本站)
後設資料
資料識別:
A99035036
資料類型:
期刊論文
著作者:
柯德祥(Ker, Dershyang) 林家傑(Lin, Chia-chieh)
主題與關鍵字:
自動測試裝備 自動診錯 參數估算法 時域分析 類比電路 Automatic test equipment Fault diagnosis Parameter estimation Time domain analysis Analog circuit
描述:
來源期刊:中華技術學院學報
卷期:19 民88.09
頁次:頁28-34
日期:
19990900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
柯德祥(Ker, Dershyang) 林家傑(Lin, Chia-chieh)(19990900)。[Fault Diagnosis in ATE's Analog Circuit Modules Using Parameter Estimation]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/64/44/c0.html(2024/09/13瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/64/44/c0.html
評分與驗證
請為這筆數位資源評分
感謝您為這筆數位資源評分,為了讓資料更容易被檢索利用,請選擇和這項數位資源相關的詞彙:
類比電路
時域分析
柯德
請填入更適合的關鍵詞
推薦藏品
利用免疫細胞吞噬活性為快速篩檢平臺評...
南科345kV地下電纜線路之規劃設計...
戰國至漢初的儒學傳承--以楚地簡帛為...
鳳的傳人--論中國上古史的二元對立
咽喉異物感的探討
液相層析質譜儀(LC/MS)與製藥工...