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Si/Ta/Cu UBM鍍層之結合強度
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資料識別:
A99034660
資料類型:
期刊論文
著作者:
林建泰(Lin, Chien-tai) 林光隆(Lin, Kwang-lung)
主題與關鍵字:
鉭 銅 隆點底層金屬 濺鍍蝕刻 負偏壓 Tantalum Copper Under bump metallurgy Sputter etch Bias
描述:
來源期刊:材料科學
卷期:31:3 民88.09
頁次:頁166-168
日期:
19990900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
林建泰(Lin, Chien-tai) 林光隆(Lin, Kwang-lung)(19990900)。[Si/Ta/Cu UBM鍍層之結合強度]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/64/43/49.html(2024/09/13瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/64/43/49.html
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