Evaluation of Lithographic Performance of Chemically Amplified Deep-UV Resist

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資料識別:
A99020986
資料類型:
期刊論文
著作者:
劉宗宏(Liou, Tzong-horng)
主題與關鍵字:
製程評估 深紫外光阻劑 微影 Process evaluation Deep-UV resist Lithography
描述:
來源期刊:樹德學報
卷期:24 民88.08
頁次:頁69-80
日期:
19990800
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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