首頁
部落格
Facebook專頁
ENGLISH
珍藏特展
目錄導覽
技術體驗
成果網站資源
目錄導覽首頁
HOTKEY快速導覽
內容主題
典藏機構
進階搜尋
資源聯盟
首頁
目錄導覽
內容主題
新聞
國圖館藏期刊
首頁
目錄導覽
典藏機構與計畫
國家圖書館
國家圖書館期刊報紙典藏數位化計畫
Evaluation of Lithographic Performance of Chemically Amplified Deep-UV Resist
推薦分享
資源連結
連結到原始資料
(您即將開啟新視窗離開本站)
後設資料
資料識別:
A99020986
資料類型:
期刊論文
著作者:
劉宗宏(Liou, Tzong-horng)
主題與關鍵字:
製程評估 深紫外光阻劑 微影 Process evaluation Deep-UV resist Lithography
描述:
來源期刊:樹德學報
卷期:24 民88.08
頁次:頁69-80
日期:
19990800
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
劉宗宏(Liou, Tzong-horng)(19990800)。[Evaluation of Lithographic Performance of Chemically Amplified Deep-UV Resist]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/64/0a/23.html(2024/09/13瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/64/0a/23.html
評分與驗證
請為這筆數位資源評分
感謝您為這筆數位資源評分,為了讓資料更容易被檢索利用,請選擇和這項數位資源相關的詞彙:
深紫外光
劉宗
請填入更適合的關鍵詞
推薦藏品
撥號選接器監測與管理系統之發展
佛國淨土與中國神話:莫高窟285窟的...
物種生態誌(2)
人類幹細胞研究的法議題
總計畫:中藥材輻射滅菌劑量之評估研究...
基因、主體與後人文社會規範