積體電路分析量測技術的現況與未來發展
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- 資料識別：
- A99016229
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 潘扶民
- 主題與關鍵字：
- 積體電路
- 描述：
- 來源期刊:國科會國家毫微米元件實驗室通訊
- 卷期:6:3 民88.08
- 頁次:頁1-11
- 日期：
- 19990800
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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- 管理單位：知識服務組-期刊
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