VPD/TXRF的基本原理和在半導體製程的應用

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資料識別:
A99011854
資料類型:
期刊論文
著作者:
劉博文
主題與關鍵字:
半導體製程 蒸氣分解法/全反射螢光表面分析儀 Vapor phase decomposition total reflection X-ray fluorescence spectroscopy VPD/TXRF
描述:
來源期刊:科儀新知
卷期:20:5=109 民88.04
頁次:頁68-83
日期:
19990400
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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