半導體元件特性量測--C-V量測應具備的基本觀念

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資料識別:
A98004654
資料類型:
期刊論文
著作者:
李耀泰
主題與關鍵字:
半導體元件 C-V量測
描述:
來源期刊:電子月刊
卷期:4:2=31 民87.02
頁次:頁79-86
日期:
19980200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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