半導體元件特性量測--C-V量測應具備的基本觀念
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- 資料識別：
- A98004654
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 李耀泰
- 主題與關鍵字：
- 半導體元件 C-V量測
- 描述：
- 來源期刊:電子月刊
- 卷期:4:2=31 民87.02
- 頁次:頁79-86
- 日期：
- 19980200
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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