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EIA測試規範(3)--電子連接器低階接觸阻抗測試程序(TP-23A)
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後設資料
資料識別:
A98041080
資料類型:
期刊論文
主題與關鍵字:
電子連接器 低階接觸阻抗測試 EIA
描述:
來源期刊:連接器產業通訊
卷期:27 民87.12
頁次:頁10-11
貢獻者:
胡國昌
日期:
19981200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
作者不詳(19981200)。[EIA測試規範(3)--電子連接器低階接觸阻抗測試程序(TP-23A)]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/63/bf/ac.html(2024/09/13瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/63/bf/ac.html
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