大氣壓力游離式質譜儀在半導體工業之應用

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資料識別:
A98029653
資料類型:
期刊論文
著作者:
莊麗津 楊正平 劉秋明
主題與關鍵字:
大氣壓力游離式質譜儀 半導體工業
描述:
來源期刊:科儀新知
卷期:20:2=106 民87.10
頁次:頁21-29
日期:
19981000
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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