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JTAG Boundary Scan測試結構及在ARM7TDMI微處理器中的應用
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後設資料
資料識別:
A98021844
資料類型:
期刊論文
著作者:
魏樹銘(Wei, Shu-ming)
主題與關鍵字:
建入自我測試 資料流程 資料匯流排 位址匯流排 嵌入式實模器 監視點 中斷點 Built-in self-test Data path Data bus Address bus Embedded ICE Watchpoint Breakpoint
描述:
來源期刊:電腦與通訊
卷期:71 民87.07
頁次:頁49-54
日期:
19980700
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
魏樹銘(Wei, Shu-ming)(19980700)。[JTAG Boundary Scan測試結構及在ARM7TDMI微處理器中的應用]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/63/6f/05.html(2024/09/13瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/63/6f/05.html
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