VLSI測試工程簡介
推薦分享
資源連結
連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)後設資料
- 資料識別：
- A98011238
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 邱青松(Chiu， Ching-sung)
- 主題與關鍵字：
- 數位積體電路測試 類比積體電路測試 記憶體測試 量產測試 工程驗證測試 可測試性設計 System-on-chip SOC
- 描述：
- 來源期刊:電腦與通訊
- 卷期:70 民87.06
- 頁次:頁39-40
- 日期：
- 19980600
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
授權聯絡窗口
- 管理單位：知識服務組-期刊
聯絡E-mail：nclper@ncl.edu.tw
電話：02-23619132轉305
