Probing the Microstructure in Semiconductor Layer Materials Using Synchrotron Radiation

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後設資料

資料識別:
A97029683
資料類型:
期刊論文
著作者:
Kao,Y. H.
描述:
來源期刊:Chinese Journal of Physics
卷期:35:4 民86.08
頁次:頁353-364
日期:
19970800
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

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管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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