單一粒界VLSI鋁線之EM現象研究
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- 資料識別：
- A97018957
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 洪朝富(Hong， Chao-fu) 簡恩義(Jean， En-yih) 潘瑞清(Pan， Reuay-ching) 徐加玲(Hsu， Linda Chia-ling) 黃建仁(Huang， Chien-jen)
- 主題與關鍵字：
- 平均壽命 粒界 空隙 空洞 VLSI EM MTF Grain boundary Void Vacancy
- 描述：
- 來源期刊:技術學刊
- 卷期:12:3 民86.09
- 頁次:頁433-438
- 日期：
- 19970900
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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