半導體微影製程中阻劑修飾對製程的影響

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資料識別:
A00039143
資料類型:
期刊論文
著作者:
盧永坤
主題與關鍵字:
阻劑修飾 紫外線吸收光譜分析 可見光吸收光譜分析 開放式微波消化 重量分析法 感應耦合電漿質譜分析 熱穩定性 蝕刻抗蝕刻性 Photoresist modification UV VIS Ultra-violet Visible absorption spectrometry Visible absorption spectrometry Open-focused microwave digestion Gravimetric method ICP-MS Inductively coupled plasma-mass spectrometry Thermal stability Etching resistance
描述:
來源期刊:華夏學報
卷期:35 民89.12
頁次:頁15113-15140
日期:
20001200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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