積體電路元件構裝之非破壞檢測技術簡介
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- 資料識別：
- A00035416
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 蕭祝阴(Hsiao， U. C.) 施能謙(Shie， N. C.) 朱時梁(Chu， S. L.)
- 主題與關鍵字：
- 積體電路元件構裝 非破壞檢測 聲學顯微鏡 IC構裝
- 描述：
- 來源期刊:檢測科技
- 卷期:18:6 民89.11-12
- 頁次:頁215-227
- 日期：
- 20001100
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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