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積體電路多樣產品生產線製造績效評估之研究
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後設資料
資料識別:
A00002586
資料類型:
期刊論文
著作者:
唐麗英(Tong, Lee-ing) 李威儀(Li, Wei-i) 林雍己(Lin, Yung-chi) 張永佳(Chang, Yung-chia)
主題與關鍵字:
製造績效 積體電路 良率模式 製程缺陷 多樣產品生產線 Manufacturing performance integrated circuit Yield model Process defect Multiple production lines
描述:
來源期刊:工業工程學刊
卷期:17:2 民89.03
頁次:頁191-198
日期:
20000300
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
唐麗英(Tong, Lee-ing) 李威儀(Li, Wei-i) 林雍己(Lin, Yung-chi) 張永佳(Chang, Yung-chia)(20000300)。[積體電路多樣產品生產線製造績效評估之研究]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/62/53/41.html(2024/09/13瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/62/53/41.html
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