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建構半導體製程改善之失效模式與效應分析架構及其應用研究
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資料識別:
A00002581
資料類型:
期刊論文
著作者:
方鈞(Fang, Guin) 簡禎富(Chien, Chen-fu) 王鴻儒(Wang, Hung-ju) 徐紹鐘(Hsu, Shao-chung) 黃啟東(Huang, Donald) 陳志萍(Chen, Chin-ping)
主題與關鍵字:
半導體製程技術 失效模式與效應分析 失效模式效應與關鍵性分析 故障樹 事件樹 決策分析 知識管理 Semiconductor process technology Failure mode Effect and criticality analysis Failure model effect analysis Fault tree Event tree Decision analysis Knowledge management
描述:
來源期刊:工業工程學刊
卷期:17:2 民89.03
頁次:頁133-146
日期:
20000300
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
方鈞(Fang, Guin) 簡禎富(Chien, Chen-fu) 王鴻儒(Wang, Hung-ju) 徐紹鐘(Hsu, Shao-chung) 黃啟東(Huang, Donald) 陳志萍(Chen, Chin-ping)(20000300)。[建構半導體製程改善之失效模式與效應分析架構及其應用研究]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/62/53/3c.html(2017/03/23瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/62/53/3c.html
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