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掃描電容顯微鏡技術簡介
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後設資料
資料識別:
A00023083
資料類型:
期刊論文
著作者:
張茂男 潘扶民 張子云 吳柏偉
主題與關鍵字:
掃描電容顯微鏡 掃描探針顯微鏡 Scanning probe microscopy SPM
描述:
來源期刊:國科會國家毫微米元件實驗室通訊
卷期:7:3 民89.08
頁次:頁26-30
日期:
20000800
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
張茂男 潘扶民 張子云 吳柏偉(20000800)。[掃描電容顯微鏡技術簡介]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/62/34/74.html(2024/09/13瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/62/34/74.html
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