掃描電容顯微鏡技術簡介

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資料識別:
A00023083
資料類型:
期刊論文
著作者:
張茂男 潘扶民 張子云 吳柏偉
主題與關鍵字:
掃描電容顯微鏡 掃描探針顯微鏡 Scanning probe microscopy SPM
描述:
來源期刊:國科會國家毫微米元件實驗室通訊
卷期:7:3 民89.08
頁次:頁26-30
日期:
20000800
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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