A Behavior-Level Fault Model for the Closed-Loop Operational Amplifier

推薦分享

Share

資源連結

連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)

後設資料

資料識別:
A00021949
資料類型:
期刊論文
著作者:
張永嘉(Chang, Yeong-jar) 李崇仁(Lee, Chung Len) 陳竹一(Chen, Jwu E) 蘇朝琴(Su, Chauchin)
主題與關鍵字:
Fault simulation Fault model Macro-modeling Operational amplifier Analog/mixed testing Monte Carlo
描述:
來源期刊:Journal of Information Science and Engineering
卷期:16:5 民89.09
頁次:頁751-766
日期:
20000900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

引用這筆典藏 引用說明

引用資訊
直接連結