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A Behavior-Level Fault Model for the Closed-Loop Operational Amplifier
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資料識別:
A00021949
資料類型:
期刊論文
著作者:
張永嘉(Chang, Yeong-jar) 李崇仁(Lee, Chung Len) 陳竹一(Chen, Jwu E) 蘇朝琴(Su, Chauchin)
主題與關鍵字:
Fault simulation Fault model Macro-modeling Operational amplifier Analog/mixed testing Monte Carlo
描述:
來源期刊:Journal of Information Science and Engineering
卷期:16:5 民89.09
頁次:頁751-766
日期:
20000900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
張永嘉(Chang, Yeong-jar) 李崇仁(Lee, Chung Len) 陳竹一(Chen, Jwu E) 蘇朝琴(Su, Chauchin)(20000900)。[A Behavior-Level Fault Model for the Closed-Loop Operational Amplifier]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/62/2f/fc.html(2024/09/13瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/62/2f/fc.html
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