Testing Configurable LUT-Based FPGAs

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資料識別:
A00021948
資料類型:
期刊論文
著作者:
呂學坤(Lu, Shyue-kung) 史振生(Shih, Jen-sheng)
主題與關鍵字:
FPGA Fault detection Bijection Built-in self-test BIST C-testable
描述:
來源期刊:Journal of Information Science and Engineering
卷期:16:5 民89.09
頁次:頁733-750
日期:
20000900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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