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Testing Configurable LUT-Based FPGAs
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後設資料
資料識別:
A00021948
資料類型:
期刊論文
著作者:
呂學坤(Lu, Shyue-kung) 史振生(Shih, Jen-sheng)
主題與關鍵字:
FPGA Fault detection Bijection Built-in self-test BIST C-testable
描述:
來源期刊:Journal of Information Science and Engineering
卷期:16:5 民89.09
頁次:頁733-750
日期:
20000900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
呂學坤(Lu, Shyue-kung) 史振生(Shih, Jen-sheng)(20000900)。[Testing Configurable LUT-Based FPGAs]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/62/2f/fb.html(2024/09/13瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/62/2f/fb.html
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