Flip-Flop Selection for Mixed Scan and Reset Design Based on Test Generation and Structure of Sequential Circuits
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- 資料識別：
- A00021945
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 梁新聰(Liang， Hsing-chung) 李崇仁(Lee， Chung Len)
- 主題與關鍵字：
- Partial scan Partial reset Reachable states Test generation Design for testability
- 描述：
- 來源期刊:Journal of Information Science and Engineering
- 卷期:16:5 民89.09
- 頁次:頁687-702
- 日期：
- 20000900
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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