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先進半導體製程控制技術簡介
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後設資料
資料識別:
A00018405
資料類型:
期刊論文
著作者:
張耀仁 黃建榮 張少貢
主題與關鍵字:
先進半導體製程控制 故障偵測與分類 每批次製程控制 Advanced process control Fault detection and classification Run-to-run control
描述:
來源期刊:機械工業
卷期:210 民89.09
頁次:頁236-241
日期:
20000900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
張耀仁 黃建榮 張少貢(20000900)。[先進半導體製程控制技術簡介]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/62/1e/40.html(2024/09/13瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/62/1e/40.html
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