Contributions of Ion-Induced Damage Restoration and Removal in GaN Light Emitting Diodes
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- 資料識別：
- A00017646
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 呂燕堂(Lyu， Yen-tang) 劉育任(Liu， Yu-ren) 劉代山(Liu， Day-shan) 李清庭(Lee， Ching-ting)
- 主題與關鍵字：
- 氮化鎵 軟崩潰 表面漏電流 離子轟擊損傷 熱處理 GaN Ion-induced damage Soft breakdown Surface leakage Thermal treatment
- 描述：
- 來源期刊:Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering
- 卷期:7:3 民89.08
- 頁次:頁173-180
- 日期：
- 20000800
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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