CCL JAVA整合型晶片測試方法

推薦分享

Share

資源連結

連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)

後設資料

資料識別:
A00010340
資料類型:
期刊論文
著作者:
王建雄(Wang, Jason)
主題與關鍵字:
可測試性設計 智權元件 模組 液晶顯示 通用型輸入/輸出 Design for testability DFT Intellectual properties IP Module Liquid crystal display LCD General purpose input/output GPIO
描述:
來源期刊:電腦與通訊
卷期:90 民89.06
頁次:頁65-68
日期:
20000600
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

引用這筆典藏 引用說明

引用資訊
直接連結

評分與驗證

請為這筆數位資源評分

star star star star star

推薦藏品

三相混合式發電系統變頻器之研製
IC光阻材料技術發展
基因、主體與後人文社會規範
過氧亞硝酸根負離子與去氧核醣核酸的化...
前衛運動、現代主義與後現代主義(1)
常見泌尿系統疾病之中西醫診治