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積體電路封裝測試
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後設資料
資料識別:
A01042239
資料類型:
期刊論文
主題與關鍵字:
積體電路封裝 IC測試
描述:
來源期刊:表面黏著技術季刊
卷期:34 民90.04
頁次:頁21-24
貢獻者:
陳明坤
日期:
20010400
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
作者不詳(20010400)。[積體電路封裝測試]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/61/cd/7f.html(2024/09/13瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/61/cd/7f.html
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