A BIST Architecture for AT-Speed DRAM Testing
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- 資料識別：
- A01035152
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 黃錫瑜(Huang， Shi-yu) 蒯定明(Kwai， Ding-ming) 黃建華(Huang， Chris)
- 主題與關鍵字：
- 動態記憶體 自我測試 相量序列產生電路 電路加速技巧 有限狀態機 Functional false path Statically sensitizable path Statically co-sensitizable path Non-primitive path Primitive path
- 描述：
- 來源期刊:Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering
- 卷期:8:4 民90.11
- 頁次:頁387-394
- 日期：
- 20011100
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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- 管理單位：知識服務組-期刊
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