Configuration Free SOC Interconnect BIST Methodology
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- 資料識別：
- A01035151
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 蘇朝琴(Su， Chau-chin) 曾文亮(Tseng， Wen-liang)
- 主題與關鍵字：
- 系統晶片 自我測試 可測試設計 連接線測試 System-on-chip Built-in self test Design for testability Interconnect testing
- 描述：
- 來源期刊:Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering
- 卷期:8:4 民90.11
- 頁次:頁377-386
- 日期：
- 20011100
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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- 管理單位：知識服務組-期刊
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