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後設資料

資料識別:
A01035151
資料類型:
期刊論文
著作者:
蘇朝琴(Su, Chau-chin) 曾文亮(Tseng, Wen-liang)
主題與關鍵字:
系統晶片 自我測試 可測試設計 連接線測試 System-on-chip Built-in self test Design for testability Interconnect testing
描述:
來源期刊:Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering
卷期:8:4 民90.11
頁次:頁377-386
日期:
20011100
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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