Fast Deterministic Test Pattern Generation for Scan-Based BIST Environment
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- 資料識別：
- A01035150
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 王維倫(Wang， Wei-lun) 李昆忠(Lee， Kuen-jong)
- 主題與關鍵字：
- 線性迴授位移暫存器 植入式自我測試 虛擬隨機式測試向量產生器 特定式測試向量產生器 掃描鏈 Linear feedback shift register Built-in self-test Pseudorandom test pattern generator Deterministic test pattern generator Scan chain
- 描述：
- 來源期刊:Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering
- 卷期:8:4 民90.11
- 頁次:頁365-376
- 日期：
- 20011100
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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