A Hierarchical Test Control Architecture for SOC Design
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- 資料識別：
- A01035149
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 李昆忠(Lee， Kuen-jong) 黃正儀(Huang， Cheng-i)
- 主題與關鍵字：
- 單晶片系統 階層式測試控制 核心電路測試 SOC P1500 Hierarchical test control Core-based testing
- 描述：
- 來源期刊:Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering
- 卷期:8:4 民90.11
- 頁次:頁355-363
- 日期：
- 20011100
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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