Core-Based System-on-Chip Testing: Challenges and Opportunities
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- 資料識別：
- A01035148
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 吳誠文(Wu， Cheng-wen) 李進福(Li， Jin-fu) 黃稚存(Huang， Chih-tsun)
- 主題與關鍵字：
- 內建自我測試 核心測試語言 IC測試 IEEE P1500標準 系統晶片 測試排程 Built-in self-test BIST Core test language IC testing IEEE P1500 standard System-on-chip SOC Test scheduling
- 描述：
- 來源期刊:Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering
- 卷期:8:4 民90.11
- 頁次:頁335-353
- 日期：
- 20011100
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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- 管理單位：知識服務組-期刊
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