電線短路熔痕以二次離子質譜儀(SIMS)作表面分析之鑑識方法
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- 資料識別：
- A01034765
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 王靜婷(Wang， Ji-ting) 陳火炎(Chang， Ho-an) 江金龍(Chiung， Chin-lung)
- 主題與關鍵字：
- 一次痕 二次痕 熱痕 二次離子質譜儀 縱深分佈分析 The cause of the fire Resulted from the fire Cooper microstructure Secondaryion mass spectroscopy Depth prfiling analysis SIMS
- 描述：
- 來源期刊:弘光學報
- 卷期:38 民90.11
- 頁次:頁43-48
- 日期：
- 20011100
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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