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考慮檢驗誤差下不可修復組件之合格率為截取Weibull分配之貝氏檢驗模式
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後設資料
資料識別:
A01026286
資料類型:
期刊論文
著作者:
吳復強
主題與關鍵字:
檢驗計劃 檢驗誤差 貝氏決策理論 條件機率 截取Weibull分配
描述:
來源期刊:萬能學報
卷期:23 民90.08
頁次:頁207+209-218
日期:
20010800
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
吳復強(20010800)。[考慮檢驗誤差下不可修復組件之合格率為截取Weibull分配之貝氏檢驗模式]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/61/89/20.html(2024/09/13瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/61/89/20.html
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