紅外線檢測技術於印刷電路板及半導體製程上之應用

推薦分享

Share

資源連結

連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)

後設資料

資料識別:
A01021796
資料類型:
期刊論文
著作者:
鄭錦智(Cheng, C. J.) 陳翠娟(Chen, T. C.) 賴永成(Lai, Y. C.)
主題與關鍵字:
紅外線檢測技術 印刷電路板 半導體製程
描述:
來源期刊:檢測科技
卷期:19:4 民90.07-08
頁次:頁124-128
日期:
20010700
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

引用這筆典藏 引用說明

引用資訊
直接連結

評分與驗證

請為這筆數位資源評分

star star star star star

推薦藏品

酸性離子液體觸媒在煉油及石化工業之應...
硼含量對AlCoCrFe₂NiMo□...
現代中國畫的傳統與變革
中藥材中黃麴毒素污染之調查
物種生態誌
前衛運動、現代主義與後現代主義(1)