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Goodness-of-fit Tests for Semiparametric Models with Multiple Event-Time Data
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後設資料
資料識別:
A01021248
資料類型:
期刊論文
著作者:
Choi,Suktae Jin,Zhezhen Ying,Zhiliang
主題與關鍵字:
Counting process Cox regression Empirical Bayes Goodness of fit Martingale Multiple event times Poisson process Random effect
描述:
來源期刊:Statistica Sinica
卷期:11:3 民90.07
頁次:頁723-736
日期:
20010700
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
Choi,Suktae Jin,Zhezhen Ying,Zhiliang(20010700)。[Goodness-of-fit Tests for Semiparametric Models with Multiple Event-Time Data]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/61/75/64.html(2024/09/13瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/61/75/64.html
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