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Reduction of Ultra-pure Water Usage in Wafer Rinsing Process via Sequential Compensatory Strategies
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資料識別:
A01001814
資料類型:
期刊論文
著作者:
呂世源(Lu, Shih-yuan) 湯慧秀(Tong, Hway-show) 陳文章(Chen, Wen-chang) 劉大佼(Liu, Ta-jo)
主題與關鍵字:
Reduction Ultra-pure water Wafer rinsing Semi-conductor 晶圓 洗滌程序 超純水
描述:
來源期刊:Journal of the Chinese Institute of Chemical Engineers
卷期:32:2 民90.03
頁次:頁117-124
日期:
20010300
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
呂世源(Lu, Shih-yuan) 湯慧秀(Tong, Hway-show) 陳文章(Chen, Wen-chang) 劉大佼(Liu, Ta-jo)(20010300)。[Reduction of Ultra-pure Water Usage in Wafer Rinsing Process via Sequential Compensatory Strategies]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/61/6b/fd.html(2024/09/13瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/61/6b/fd.html
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