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利用X光吸收光譜近吸收邊緣量測高溫超導材料之電洞濃度
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後設資料
資料識別:
A01000573
資料類型:
期刊論文
著作者:
許益瑞 劉如熹 陳錦明
主題與關鍵字:
X光吸收光譜近吸收邊緣 高溫超導材料
描述:
來源期刊:科儀新知
卷期:22:4=120 民90.02
頁次:頁12-20
日期:
20010200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
許益瑞 劉如熹 陳錦明(20010200)。[利用X光吸收光譜近吸收邊緣量測高溫超導材料之電洞濃度]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/61/40/0f.html(2024/09/13瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/61/40/0f.html
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