掃描式探針顯微鏡在半導體產業之新應用

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資料識別:
A01000365
資料類型:
期刊論文
著作者:
蔡增光 張茂男 吳柏偉 潘扶民
主題與關鍵字:
半導體產業 掃描式探針顯微鏡 Scanning probe microscopy SPM
描述:
來源期刊:科學發展月刊
卷期:29:2 民90.02
頁次:頁97-101
日期:
20010200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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