干涉儀


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資料識別:
識別碼:18-08_MG_4934
資料類型:
型式:實體物件
主題與關鍵字:
干涉儀、儀器校正
描述:
干涉儀是非接觸式量測,可用來量測平面與球面光學元件的表面精度與曲率半徑,為量測光學元件重要的儀器之一。
出版者:
數位化執行單位:國防大學理工學院珍稀測量儀器數位典藏計畫
日期:
使用年代:民國50年
格式:
長X寬X高(cm):92X22X19
重量(kg):15kg
管理權:
國防大學理工學院
後設資料創用CC
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