干涉儀
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- 資料識別：
- 識別碼:18-08_MG_4934
- 資料類型：
- 型式:實體物件
- 主題與關鍵字：
- 干涉儀、儀器校正
- 描述：
- 干涉儀是非接觸式量測，可用來量測平面與球面光學元件的表面精度與曲率半徑，為量測光學元件重要的儀器之一。
- 出版者：
- 數位化執行單位:國防大學理工學院珍稀測量儀器數位典藏計畫
- 日期：
- 使用年代:民國50年
- 格式：
- 長X寬X高(cm):92X22X19
- 重量(kg):15kg
- 管理權：
- 國防大學理工學院
- 後設資料創用CC
