共燒匹配對Y5V積層陶瓷電容器可靠度之影響
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- 資料識別：
- A11043636
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 方立緯(Fun， Benny) 蘇信旗(Su， Bruce) 陳志源(Chen， Klouse) 蕭富昌(Shiao， F. T.) 蔡聰智(Tsai， Jeff)
- 主題與關鍵字：
- Y5V MLCC Nickel electrode 可靠度 共燒匹配 積層陶瓷電容器
- 描述：
- 來源期刊:陶業
- 卷期:30:3 2011.07[民100.07]
- 頁次:頁10-15
- 日期：
- 20110700
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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